Luận Văn Thạc Sĩ Đánh Giá Khuyết Tật Bằng Kỹ Thuật Chụp Ảnh Cắt Lớp

Kiểm tra không phá hủy (Non-Destructive Testing – NDT) [1] đóng vai trò quan trọng trong nghiên cứu và ứng dụng. Phương pháp này giúp xác định được các khuyết tật bên trong các cấu trúc vật liệu, nhờ đó có thể biết được sản phẩm sản xuất ra có đạt chất lượng hay không? Có đáp ứng được nhu cầu hay không? Có nhiều kỹ thuật được sử dụng trong phương pháp NDT, trong đó kỹ thuật chụp ảnh cắt lớp điện toán (Computed Tomography – CT) là một trong những phương pháp phổ biến, được sử dụng nhiều trong NDT. Trong phương pháp này, dữ liệu chiếu ghi nhận được bằng detector sẽ được sử dụng để phục hồi lại ảnh của mẫu vật mà không cần phá hủy mẫu.

• Luận văn thạc sĩ vật lý
• Chuyên ngành Vật lý nguyên tử và hạt nhân
• Người hướng dẫn: PGS. TS. Trần Thiện Thanh
• Tác giả: Nguyễn Vũ Quốc Toàn
• Số trang: 50
• Kiểu file: PDF
• Ngôn ngữ: Tiếng Việt
• Đại học Sư phạm TP. Hồ Chí Minh 2019

Link Download
https://dlib.hcmue.edu.vn/handle/SPHCM/20969
https://drive.google.com/uc?id=1JhLmDZneStBLikr8pjKvAWsYbe6lpagZ
https://drive.google.com/drive/folders/1yLBzZ1rSQoNjmWeJTM6cEZ3WGQHg04L1