Luận Văn Thạc Sĩ Mô Phỏng Monte Carlo Và Kiểm Chứng Thực Nghiệm Phép Đo Chiều Dày Vật Liệu Đối Với Hệ Chuyên Dụng

Mô Phỏng Monte Carlo Và Kiểm Chứng Thực Nghiệm Phép Đo Chiều Dày Vật Liệu Đối Với Hệ Chuyên Dụng Myo-101​

Cùng với sự phát triển của khoa học và kỹ thuật, các nguồn bức xạ được sử dụng ngày càng nhiều trong hàng loạt các lĩnh vực như: công nghiệp, nông nghiệp, sinh học, y học, khảo cổ, tạo vật liệu mới, kiểm tra khuyết tật, đo chiều dày vật liệu, xử lý nâng cao chất lượng sản phẩm… Vì vậy, việc sử dụng các nguồn bức xạ ngày càng trở nên thường xuyên và phổ biến hơn. Hiện nay có nhiều phương pháp kiểm tra khuyết tật hay đo chiều dày sản phẩm mà không cần phá hủy mẫu (Non-Destructive Testing – NDT) như phương pháp truyền qua, chụp ảnh phóng xạ, siêu âm, … cho kết quả nhanh chóng với độ chính xác cao. Tuy nhiên, trong một số trường hợp thực tế các phương pháp trên không được áp dụng mà thay thế vào đó là phương pháp tán xạ, đặc biệt là tán xạ ngược được dùng và mang lại độ chính xác cao không kém hơn các phương pháp khác. Hiện nay, phép đo chiều dày vật liệu dựa trên hiệu ứng gamma tán xạ ngược được ứng dụng rộng rãi trong ngành công nghiệp ở nước ta, như ở các nhà máy giấy với việc sử dụng hệ đo chuyên dụng dùng nguồn phóng xạ beta hay gamma mềm.

• Luận văn thạc sĩ
• Chuyên ngành Vật lý nguyên tử-hạt nhân và năng lượng cao
• Người hướng dẫn khoa học: TS. Nguyễn Văn Hùng
• Tác giả: Nguyễn Kim Thục
• Số trang: 59
  
• Kiểu file: PDF
• Ngôn ngữ: Tiếng Việt
• Đại học sư phạm TP. Hồ Chí Minh 2010

Link Download
http://nitroflare.com/view/07714BACF78D7AC
https://drive.google.com/uc?id=1weHWVQ3vylAQ7JO0my75oqdqgZ7yJzxx
https://drive.google.com/drive/folders/1yLBzZ1rSQoNjmWeJTM6cEZ3WGQHg04L1