Luận Văn Thạc Sĩ Nâng Cao Chất Lượng Ảnh Chụp Siêu Âm Cắt Lớp Dùng Phương Pháp Nội Suy

Nâng Cao Chất Lượng Ảnh Chụp Siêu Âm Cắt Lớp Dùng Phương Pháp Nội Suy ​

Phương pháp tán xạ ngược (inverse scattering) sử dụng siêu âm cắt lớp (ultrasound tomography) cho phép đo được những cấu trúc nhỏ hơn bước song, điều mà phương pháp phổ biến trong Y-Sinh là B-mode không thể làm được, nhưng những phương pháp trong ultrasound tomography là BIM và DBIM gặp phải nhược điểm là tốc độ tính toán. Luận văn đưa ra mô hình sử dụng “phép nội suy - lặp” trong 2 phương pháp tán xạ ngược là BIM (Born Iterative Method) và DBIM (Distorted Born Iterative Method) nhằm tăng tốc độ tính toán. Mô phỏng hệ thống trên matlab thu được kết quả khả quan về mặt cải thiện tốc độ tính toán.

• Luận văn thạc sĩ Công nghệ Điện tử - Viễn thông
• Chuyên ngành Kỹ thuật Điện tử
• Người hướng dẫn khoa học: TS. Trần Đức Tân
• Tác giả: Đặng Quang Vương
• Số trang: 50
• Kiểu file: PDF
• Ngôn ngữ: Tiếng Việt
• Đại học Quốc gia Hà Nội 2013

Link Download
http://dlib.vnu.edu.vn/iii/cpro/DigitalItemViewPage.external?lang=vie&sp=1012486&sp=T&sp=3&suite=def
http://sachviet.edu.vn/forums/dvd-ebook-luan-van.117/
https://drive.google.com/drive/folders/1yLBzZ1rSQoNjmWeJTM6cEZ3WGQHg04L1