Luận Văn Thạc Sĩ Nghiên Cứu Ảnh Hưởng Và Giải Pháp Hạn Chế Nhiễu Cho Thiết Bị Đo Điện Áp Sử Dụng Trong Lĩnh Vực

Discussion in 'Chuyên Ngành Kỹ Thuật Điện Tử' started by quanh.bv, Jan 5, 2019.

  1. quanh.bv

    quanh.bv Administrator Quản Trị Viên

    [​IMG]
    Nghiên Cứu Ảnh Hưởng Và Giải Pháp Hạn Chế Nhiễu Cho Thiết Bị Đo Điện Áp Sử Dụng Trong Lĩnh Vực Đo Lường Kiểm Tra Trang Thiết Bị Sonar Quân Sự
    Nhiễu là một ảnh hưởng không mong muốn đối với các hệ thống đo lường, thông tin, sonar, hệ thốngtự động hoá... Vấn đề chống nhiễu là rất quan trọng trong việc nghiên cứu thiết kế, sản xuất các thiết bị, hệ thống điều khiển tự động, đo lường…Việc nghiên cứu về nhiễu và các phương pháp chống nhiễu là vấn đề cấp thiết vì tác động của nhiễu làm cho các hệ thống thiết bị, sai lệch, giảm độ tin cậy, và đặc biệt trong đo lường thì ảnh hưởng của nhiễu trực tiếp đến độ chính xác, độ tin cậy của thiết bị đo, càng hạn chế được nhiễu thì càng nâng cao được độ chính xác, độ tin cậy của các hệ thống, thiết bị, phương tiện đo.
    • Luận văn thạc sĩ Kỹ thuật
    • Chuyên ngành Kỹ thuật điện tử
    • Người hướng dẫn khoa học: PGS.TS Lê Quốc Vượng
    • Tác giả: Cao Anh Tuấn
    • Số trang: 98
    • Kiểu file: PDF
    • Ngôn ngữ: Tiếng Việt
    • Đại học Hàng hải 2016
    Link Download
    http://lib.vimaru.edu.vn/WShowDetail.aspx?intItemID=28873
    https://drive.google.com/drive/folders/1yLBzZ1rSQoNjmWeJTM6cEZ3WGQHg04L1
     

Share This Page