Luận Án Tiến Sĩ Nghiên Cứu Xác Định Bề Dày Thép C45 Bằng Phương Pháp Gamma Tán Xạ Sử Dụng Đầu Dò Nhấp Nháy Nai (TI)

Nghiên Cứu Xác Định Bề Dày Thép C45 Bằng Phương Pháp Gamma Tán Xạ Sử Dụng Đầu Dò Nhấp Nháy Nai (TI)​

Các ứng dụng liên quan đến kỹ thuật kiểm tra không hủy thể hay còn được biết đến với tên gọi kỹ thuật NDT là một hướng nghiên cứu thu hút nhiều nhà khoa học ở nhiều phòng thí nghiệm trên thế giới. Có nhiều phương pháp khác trong kỹ thuật kiểm tra không hủy thể như phương pháp siêu âm dùng trong việc đo độ dày lớp dầu tràn [79], đo bề dày tấm phim [46] hay đo bề dày lớp men trám trên răng [37] là những ứng dụng phổ biến của kỹ thuật này. Tuy nhiên, sóng siêu âm có năng lượng khá nhỏ, độ xuyên sâu thấp nên nhìn chung phương pháp này chỉ phù hợp với việc kiểm tra bề dày của các lớp vật chất tương đối mỏng và mật độ thấp.

• Luận án tiến sĩ vật lý
• Chuyên ngành Vật lý nguyên tử và hạt nhân
• Người hướng dẫn khoa học: PGS.TS Châu Văn Tạo
• Tác giả: Hoàng Đức Tâm
• Số trang: 146
• Kiểu file: PDF
• Ngôn ngữ: Tiếng Việt
• Đại học Khoa học Tự nhiên 2015

Link Download
http://tracuu.thuvientphcm.gov.vn:8081/Overview/3414/3961/4/0/0/0/
https://drive.google.com/uc?id=11NDbe0i2vQ-CpCpOb-q-ItNx0klwJRRS
https://drive.google.com/drive/folders/1yLBzZ1rSQoNjmWeJTM6cEZ3WGQHg04L1